パーク・システムズ・ジャパン

ブース番号 5F-44
バッテリー技術展2020

見どころ情報

ナノスケール研究に必要な高い精度 ・独立Z軸スキャナとZ軸用高感度用低ノイズ検出器 ・他のAFMで見られるボウイング効果を解消するフレクチャー式XYステージ ・世界で唯一の非接触AFM技術により、チップの正確性を長時間維持 ・正確なイメージング、ユーザーフレンドリーなインターフェース、自動チップアプローチ、及び10倍速のスキャンスピード

出展製品

電子間力顕微鏡 世界で唯一の非接続AFM SmartScan/驚くほど容易な操作性のオペレーティングソフトウェアPark SystemのAFMは、他では見られない正確性と容易な操作性を提供します。材料科学・電子・ライフサイエンス・テクノロジー、その他の研究や産業分野用に特別に設計されており、高速で容易な超高分解能イメージングと超高精密測定を可能とします。

お問い合せ先情報

パーク・システムズ・ジャパン(http://www.parksystems.co.jp

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